半导体测试
应用端
可靠性
量产端
应用端
ME300D 具有高精度、高效率和高智能的特点。其测试电压为 6000V,电流为 10000A,寄生电感小于 10nH,被评为浙江省 “首台(套)” 设备。
可靠性
ME100DHTXB 可在同一系统中配备 DGB/DRB 老化柜,实现三种功能: DHTGB、DHTRB、DHTGB+DHTRB。FS 可以达到 500kHz,DGB du/dt (Vgs) 可以达到 1.5V/ns,DRB du/dt (Vds) 可以达到 80V/ns。
量产端
ME100DS-PIM 专用于 SiC 器件的量产测试。它内置专有的短路保护装置,短路电流为 12000A,短路保护时间 <1.5μs,寄生电感 <15nH。